สายเคเบิลทดสอบ SN MT เคลือบ AR 16F

สายเคเบิลทดสอบ SN MT เคลือบ AR 16F

ออกแบบมาเพื่อการทดสอบการมองเห็นที่มีความแม่นยำสูง-
16F SENKO SN-ตัวเชื่อมต่อ MT พร้อมอินเทอร์เฟซการทดสอบที่เคลือบ AR-
ลดการสะท้อนของเฟรสเนลและประสิทธิภาพออพติคอลที่เสถียรและทำซ้ำได้
สำหรับการตรวจสอบความถูกต้องของโมดูล 400G, 800G และ 1.6T
ส่งคำถาม

เซินเจิ้น Optico Communication Co., Ltd. เป็นหนึ่งในผู้ผลิตและซัพพลายเออร์ที่น่าเชื่อถือที่สุดของสายเคเบิลทดสอบ sn mt เคลือบ 16f ar ในประเทศจีน โปรดส่งผลิตภัณฑ์ที่กำหนดเองคุณภาพสูงในราคาที่แข่งขันจากโรงงานของเรา หากคุณมีคำถามเกี่ยวกับตัวอย่างฟรี โปรดส่งอีเมลถึงเรา

 

รายละเอียดผลิตภัณฑ์

 

สายเคเบิลทดสอบ 16F AR เคลือบ SN MT:ออกแบบมาสำหรับการทดสอบออปติกที่มีความหนาแน่นสูง- ชุดประกอบไฟเบอร์ SN-MT® 16- มีผิวหน้าเคลือบ AR-แบบฝังอย่างแม่นยำสำหรับการจับคู่แบบไม่-สัมผัสที่ควบคุมได้ ด้วยการลดการสะท้อนกลับและลดการสึกหรอของผิวหน้า-ให้เหลือน้อยที่สุดระหว่างการเชื่อมต่อซ้ำๆ จะช่วยรักษาการสูญเสียการแทรกที่เสถียรและผลการทดสอบที่ทำซ้ำได้ อินเทอร์เฟซ 16F ขนาดกะทัดรัดรองรับการทดสอบหลาย-ช่องทางที่มีประสิทธิภาพและเค้าโครงพอร์ตที่หนาแน่น ทำให้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบความถูกต้องของตัวรับส่งสัญญาณ การทดสอบการผลิต และ AI ความเร็วสูงและแอปพลิเคชันการเชื่อมต่อระหว่างกันแบบออปติคัลของศูนย์ข้อมูล

#ARCoated #SNMT #TestingCable #OpticalTesting #HighDensityOptics #DataCenter #AIDC #800G #1_6T #FiberOptics

 

เหตุใดจึงเลือกสายเคเบิลทดสอบ MT-Coated SN-

 

สายเคเบิลทดสอบ AR-Coated SN-MT ได้รับการออกแบบให้เป็นอินเทอร์เฟซอ้างอิงที่มีความเสถียรสำหรับการทดสอบทางแสงซ้ำๆ แทนที่จะเป็นสายแพตช์การส่งข้อมูลมาตรฐาน

การเปรียบเทียบ สายแพตช์ SN-MT มาตรฐาน 16F AR-สายเคเบิลทดสอบ SN แบบเคลือบ- MT
อินเทอร์เฟซการทดสอบ ปลายขั้วต่อมาตรฐานมีหน้าสัมผัสไฟเบอร์ปกติระหว่างการผสมพันธุ์ พื้นผิวปลายไฟเบอร์เคลือบ AR- แบบฝังพร้อมอินเทอร์เฟซแบบออปติคอลแบบไม่- มีการควบคุม
บทบาทหลัก การเชื่อมต่อโครงข่ายด้วยแสงทั่วไป การแพตช์ และการวางสายเคเบิลแบบมีโครงสร้าง การทดสอบลิงก์อ้างอิง- การตรวจสอบความถูกต้องของ DUT และการทดสอบการผลิตที่มีความถี่สูง-
การผสมพันธุ์ซ้ำ ผิวหน้าของขั้วต่ออาจมีการสัมผัสทางกลไกตามปกติและสึกหรอระหว่างการเชื่อมต่อซ้ำๆ ช่วยลดการสัมผัสแกนไฟเบอร์โดยตรง-ที่อินเทอร์เฟซการทดสอบ ปกป้องตัวเชื่อมต่อ DUT ในระหว่างการทดสอบซ้ำ
ความเสถียรของการวัด ไม่ได้ออกแบบมาโดยเฉพาะเพื่อลดความผันแปรที่เกี่ยวข้องกับการสะท้อน-ในลิงก์ทดสอบ การเคลือบ AR ช่วยลดการสะท้อนของเฟรสเนลและการสะท้อน-ความแปรผันที่เกี่ยวข้องกับการแทรก-การสูญเสียและการส่งคืน-การวัดการสูญเสีย
การใช้งานทั่วไป การแพตช์ศูนย์ข้อมูล การเชื่อมต่อระหว่างกันที่มีความหนาแน่นสูง- และลิงก์การส่งข้อมูลแบบออปติกปกติ การตรวจสอบความถูกต้องของโมดูล 400G, 800G และ 1.6T, การทดสอบอินเทอร์เฟซ SN-MT ที่เกี่ยวข้องกับ CPO- และการประเมินลิงก์ออปติคอลบน-บอร์ดหรือแบ็คเพลน-

 

เลือกสายเคเบิลทดสอบ AR-Coated SN-MT เมื่อ:เส้นทางการทดสอบของคุณต้องการอินเทอร์เฟซอ้างอิงที่นำมาใช้ซ้ำได้และมีเสถียรภาพ ซึ่งช่วยปกป้อง DUT และปรับปรุงความสามารถในการทำซ้ำของการทดสอบในระหว่างรอบการผสมพันธุ์บ่อยครั้ง

product-906-565

 

ข้อมูลจำเพาะของผลิตภัณฑ์

 

คุณสมบัติทางกายภาพ พารามิเตอร์
จำนวนไฟเบอร์ 16F
โหมดไฟเบอร์ เอสเอ็ม (OS2) / มม. (OM3 / OM4 / OM5)
ตราไฟเบอร์ คอร์นนิ่ง / YOFC
ตัวเชื่อมต่อ SN-มอนแทนา
การกำหนดค่าการเคลือบ เคลือบสอง-ด้าน / เคลือบด้านเดียว-
เพศ ชาย (M) / หญิง (F)
จบ-การขัดหน้า เอพีซี/ยูพีซี
ขั้ว ประเภท A / B / C
แจ็คเก็ตเคเบิล พีวีซี / LSZH / OFNP
สีแจ็คเก็ต สีเหลือง (SM) / Aqua (OM3) / Magenta (OM4) / สีเขียวมะนาว (OM5) / ปรับแต่งได้
เส้นผ่านศูนย์กลางของสายเคเบิล 2.0 มม
สีบูต ดำ / แดง / เทา / อื่นๆ
เคล็ดลับแกนไฟเบอร์ ปรับแต่ง
คุณสมบัติทางแสง พารามิเตอร์
การสูญเสียการแทรก (dB) โดยทั่วไปวัด การสูญเสียต่ำ การสูญเสียต่ำเป็นพิเศษ
ประมาณ. 0.20 เดซิเบล น้อยกว่าหรือเท่ากับ 0.40 เดซิเบล น้อยกว่าหรือเท่ากับ 0.35 เดซิเบล
การสูญเสียผลตอบแทน (dB) UPC / PC มากกว่าหรือเท่ากับ 50 dB; APC มากกว่าหรือเท่ากับ 65 dB
ความยาวคลื่น (นาโนเมตร) เอสเอ็ม: 1310/1550; มม.: 850/1300
คุณสมบัติทางกลและสิ่งแวดล้อม พารามิเตอร์
ความต้านแรงดึง (N) ระยะยาว ระยะสั้น
70 N 220 N
ความทนทานในการผสมพันธุ์ การเปลี่ยนแปลงการสูญเสียการแทรก (ΔIL) รอบการผสมพันธุ์
น้อยกว่าหรือเท่ากับ 0.20 เดซิเบล ขั้นต่ำ. 500
เรขาคณิตแบบไม่สัมผัส- ช่องว่างอากาศ ช่องหลัก
ประมาณ. 1.2 µm หลังจากผสมพันธุ์ 0.6-6.0 µm
อุณหภูมิในการทำงาน ( องศา ) -20 ถึง +70
อุณหภูมิในการจัดเก็บ (องศา) -40 ถึง +85

 

 

ทดสอบสถาปัตยกรรมอินเทอร์เฟซ

 

ไม่เหมือนกับจัมเปอร์ 16F SN-MT มาตรฐาน ชุดประกอบนี้ได้รับการออกแบบโดยใช้อินเทอร์เฟซการทดสอบแบบหันหน้าไปทาง DUT- ส่วนปลาย SN-MT ที่เคลือบด้วย AR- อยู่ในตำแหน่งที่เกิดการผสมพันธุ์และการวัดเชิงแสงซ้ำๆ

01 · ด้านอ้างอิง

การเชื่อมต่ออุปกรณ์ทดสอบ

ปลายทดสอบที่ไม่ใช่-เชื่อมต่อกับพอร์ตเครื่องมือ สายเคเบิลอ้างอิง อะแดปเตอร์ หรือฟิกซ์เจอร์ทดสอบในห้องปฏิบัติการที่เลือก

02 · ด้านทดสอบ

AR-อินเทอร์เฟซ SN แบบเคลือบ- MT

ตัวเชื่อมต่อ DUT- หันหน้าไปทาง 16F SN- MT ใช้อินเทอร์เฟซแบบออปติคอลเคลือบ AR- แบบฝังสำหรับการเชื่อมต่อแบบออปติคัลแบบไม่- แบบสัมผัสที่มีการควบคุม

03 · ด้าน DUT

อินเทอร์เฟซอุปกรณ์ที่มีความหนาแน่นสูง-

คู่สายเคเบิลที่มีอินเทอร์เฟซอุปกรณ์ SN-MT ที่กำหนดไว้ รวมถึงโมดูลออปติคัล อุปกรณ์ทดสอบแบบ CPO- และชุดประกอบออปติก-แบบขนาน

ออกแบบมาสำหรับตำแหน่งการผสมพันธุ์ซ้ำ-

ในลิงก์ทดสอบ การเชื่อมต่อ DUT มักจะเข้าคู่และตัดการเชื่อมต่อบ่อยกว่าอินเทอร์เฟซอื่นๆ การวางส่วนปลาย SN-MT ที่เคลือบ AR- ที่ตำแหน่งนี้ จะช่วยสร้างอินเทอร์เฟซการวัดที่มีการควบคุมมากขึ้น ขณะเดียวกันก็ลดการสัมผัสแกนไฟเบอร์โดยตรง-ที่การเชื่อมต่อแบบหันหน้าเข้าหา DUT{4}}

อินเทอร์เฟซทดสอบด้านเดียว- หรือสอง-

อินเทอร์เฟซแบบเคลือบ AR- สามารถใช้กับปลายสายเคเบิลข้างใดข้างหนึ่งหรือทั้งสองข้างตามโทโพโลยีลิงก์ ตำแหน่งของการเชื่อมต่ออ้างอิง และอินเทอร์เฟซที่ต้องมีรอบการทดสอบบ่อยครั้ง

 

คุณสมบัติผลิตภัณฑ์

 

01

AR-อินเทอร์เฟซการทดสอบแบบสัมผัสแบบไม่เคลือบ-

พื้นผิวปลายไฟเบอร์เคลือบ AR- แบบฝังจะสร้างอินเทอร์เฟซออปติคอลแบบไม่- มีการควบคุม ซึ่งช่วยลดการสะท้อนของเฟรสเนล และลดการสัมผัสแกนกลางของไฟเบอร์โดยตรง-ในระหว่างการทดสอบ

02

16F SN-อินเทอร์เฟซการทดสอบ MT VSFF

อินเทอร์เฟซ 16F SN-MT ขนาดกะทัดรัดใช้ปลอกโลหะ MT ที่มีความแม่นยำในรูปแบบ SN- ทำให้มีการเชื่อมต่ออ้างอิงที่มีความหนาแน่นสูง-สำหรับการทดสอบออปติกแบบขนาน-

03

ปกป้อง DUT และทำให้การทดสอบมีเสถียรภาพ

สายเคเบิลวางไว้ระหว่างอุปกรณ์ทดสอบและอุปกรณ์ที่ทดสอบ สายเคเบิลจะช่วยลดการสึกหรอของใบหน้า-ปลาย DUT การแทรก-การสูญเสียการเลื่อน และการสะท้อน-ความแปรผันของการวัดที่เกี่ยวข้องกับการผสมพันธุ์ซ้ำๆ

04

CPO และ On-การตรวจสอบลิงก์บอร์ด

SN-MT ใช้สำหรับการเชื่อมต่อหนาแน่นที่ Edge บนบอร์ด และในแบ็คเพลนของระบบที่มุ่งเน้น CPO- สายเคเบิลทดสอบนี้มีอินเทอร์เฟซอ้างอิงที่ตรงกันสำหรับการประเมินลิงก์ที่มีความหนาแน่นสูง-เหล่านั้น

ออกแบบมาสำหรับการทดสอบออพติคอล-แบบขนานขั้นสูง:สายเคเบิลทดสอบ 16F AR-Coated SN-MT เหมาะสำหรับการตรวจสอบโมดูล 400G, 800G และ 1.6T, การทดสอบอินเทอร์เฟซที่เกี่ยวข้องกับ CPO-, การตรวจสอบแผง-แพตช์ความหนาแน่น-สูง และการประเมินลิงก์-บอร์ดหรือแบ็คเพลนออปติคัล-

 

 
ผลิตภัณฑ์การใช้งาน
 

 

High Density Data Center

การทดสอบศูนย์ข้อมูลความเร็วสูง-

Backbone Network
CPO และเปิด-การตรวจสอบลิงก์บอร์ด
Optical Module
การตรวจสอบความถูกต้องของโมดูลออปติคัล

 

 
ทดสอบก่อนจัดส่ง 100%
 

 

ผลิตภัณฑ์ของเราผ่านการทดสอบอย่างครอบคลุมก่อนจัดส่งเพื่อให้มั่นใจว่ามีคุณภาพสูง-ในการจัดส่งให้กับลูกค้าของเรา

 

MT IL RL

 

การทดสอบ IL/RL

MPO

 

การทดสอบขั้ว

MPO End surface Test

 

สิ้นสุด-การทดสอบพื้นผิว

High and low temperature cycle

 

การทดสอบอุณหภูมิ

 

 

ใบรับรอง

 
CE-Patchcord

ซีอี

CPR

การทำ CPR

 
ISO

ไอเอสโอ

 
RoHS-Patchcord-PLC

เป็นไปตามมาตรฐาน RoHS

ป้ายกำกับยอดนิยม: สายเคเบิลทดสอบ 16f ar เคลือบ sn mt จีน ผู้ผลิต ผู้จำหน่าย โรง งาน ขายส่ง กำหนดเอง

 

ข้อมูลจำเพาะของผลิตภัณฑ์

 

คุณสมบัติทางกายภาพ พารามิเตอร์
จำนวนไฟเบอร์ 16F
โหมดไฟเบอร์ เอสเอ็ม (OS2) / มม. (OM3 / OM4 / OM5)
ตราไฟเบอร์ คอร์นนิ่ง / YOFC
ตัวเชื่อมต่อ SN-มอนแทนา
การกำหนดค่าการเคลือบ เคลือบสอง-ด้าน / เคลือบด้านเดียว-
เพศ ชาย (M) / หญิง (F)
จบ-การขัดหน้า เอพีซี/ยูพีซี
ขั้ว ประเภท A / B / C
แจ็คเก็ตเคเบิล พีวีซี / LSZH / OFNP
สีแจ็คเก็ต สีเหลือง (SM) / Aqua (OM3) / Magenta (OM4) / สีเขียวมะนาว (OM5) / ปรับแต่งได้
เส้นผ่านศูนย์กลางของสายเคเบิล 2.0 มม
สีบูต ดำ / แดง / เทา / อื่นๆ
เคล็ดลับแกนไฟเบอร์ ปรับแต่ง
คุณสมบัติทางแสง พารามิเตอร์
การสูญเสียการแทรก (dB) โดยทั่วไปวัด การสูญเสียต่ำ การสูญเสียต่ำเป็นพิเศษ
ประมาณ. 0.20 เดซิเบล น้อยกว่าหรือเท่ากับ 0.40 เดซิเบล น้อยกว่าหรือเท่ากับ 0.35 เดซิเบล
การสูญเสียผลตอบแทน (dB) UPC / PC มากกว่าหรือเท่ากับ 50 dB; APC มากกว่าหรือเท่ากับ 65 dB
ความยาวคลื่น (นาโนเมตร) เอสเอ็ม: 1310/1550; มม.: 850/1300
คุณสมบัติทางกลและสิ่งแวดล้อม พารามิเตอร์
ความต้านแรงดึง (N) ระยะยาว ระยะสั้น
70 N 220 N
ความทนทานในการผสมพันธุ์ การเปลี่ยนแปลงการสูญเสียการแทรก (ΔIL) รอบการผสมพันธุ์
น้อยกว่าหรือเท่ากับ 0.20 เดซิเบล ขั้นต่ำ. 500
เรขาคณิตแบบไม่สัมผัส- ช่องว่างอากาศ ช่องหลัก
ประมาณ. 1.2 µm หลังจากผสมพันธุ์ 0.6-6.0 µm
อุณหภูมิในการทำงาน ( องศา ) -20 ถึง +70
อุณหภูมิในการจัดเก็บ (องศา) -40 ถึง +85